Опубликован новый номер (№ 1, 2026) журнала «Безопасность информационных технологий»
На сайте издания доступен новый номер (№ 1, 2026) научного журнала НИЯУ МИФИ «Безопасность информационных технологий».
13.03.2026 НИЯУ МИФИ
День студента в МИФИ: «Да исчезнет печаль!»
«Да исчезнет печаль, да исчезнут скорби наши!» – так поется в прекрасном студенческом гимне, и именно под таким девизом отметили День студента в МИФИ.
26.01.2026 НИЯУ МИФИ
Опубликован №6 (2025) журнала «Безопасность информационных технологий»
На сайте издания доступен новый номер (№ 4, 2025) научного журнала НИЯУ МИФИ «Безопасность информационных технологий».
11.12.2025 НИЯУ МИФИ
Идет работа Предконференции №1 «Доверенная и экстремальная электроника»
8 сентября в рамках 11-го Российского форума «Микроэлектроника 2025» с начала работу уже ставшая традиционной Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника» .
09.09.2025 НИЯУ МИФИ
В РТУ МИРЭА прошло очередное рабочее совещание по стандартизации «Электронное машиностроение и специальные материалы»
28 марта состоялось рабочее совещание по стандартизации «Электронное машиностроение и специальные материалы», на котором обсуждались сводки отзывов специалистов отрасли к проектам ГОСТ Р «Электронное машиностроение.
02.04.2025 МИРЭА
Представители РТУ МИРЭА приняли участие в рабочем совещании по стандартизации «Электронное машиностроение и специальные материалы»
18 февраля состоялось рабочее совещание по стандартизации «Электронное машиностроение и специальные материалы»,
20.02.2025 МИРЭА
РТУ МИРЭА был представлен на Предконференции № 1 «Доверенная и экстремальная электроника» форума «Микроэлектроника 2024»
С 9 по 12 сентября проходила Предконференция № 1 «Доверенная и экстремальная электроника», организованная консорциумом НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» — в преддверии 10-го юбилейного форума «Микроэлектроника 2024».
16.09.2024 МИРЭА
Опубликован новый номер журнала «Безопасность информационных технологий»
Новый номер - Том 31 №2 (2024) научного журнала НИЯУ МИФИ «Безопасность информационных технологий» (IT Security) доступен на сайте издания .
27.06.2024 НИЯУ МИФИ
Эксперты НИЯУ МИФИ – среди ключевых спикеров форума «Микроэлектроника 2023»
На федеральной территории «Сириус» на этой неделе проходит главное информационное событие года в мире электронных технологий – Российский форум «Микроэлектроника 2023»,
12.10.2023 НИЯУ МИФИ
Сотрудник НИЯУ МИФИ прочёл доклад на Совете по применению электронной компонентной базы
22 мая сотрудники НОЦ «Стойкость» (АО «ЭНПО СПЭЛС» и Центр экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ) Андрей Викторович Яненко и Алексей Олегович Ахметов приняли участие в ежегодном мероприятии «Совет по применению
28.05.2019 НИЯУ МИФИ
Сотрудники НОЦ «Стойкость» представили доклады на конференции «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2018»
18-20 апреля сотрудники НОЦ «Стойкость» (АО «ЭНПО СПЭЛС» и ИЭПЭ НИЯУ МИФИ) Чумаков Александр Иннокентьевич, Яненко Андрей Викторович, Смолин Анатолий Александрович, Боруздина Анна Борисовна, Усачев Николай Александрович,
15.05.2018 НИЯУ МИФИ
Представители НОЦ «Стойкость» приняли участие в ежегодном научном семинаре «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур»
В период с 28.02 по 01.
20.03.2018 НИЯУ МИФИ
Сотрудники МИФИ приняли участие в 27-ой Международной Крымской конференции «СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии»
В период с 10 по 16 сентября 2017 года сотрудники НОЦ «Стойкость» (НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») Амбуркин К.М., Громов Д.В., Жидков Н.М.
06.10.2017 НИЯУ МИФИ
Сотрудники НИЯУ МИФИ представили 63 доклада на юбилейной 20-й Всероссийской научно-технической конференции «Стойкость-2017»
6-7 июня 2017 года в г. Лыткарино Московской области состоялась юбилейная 20-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2017»,
16.06.2017 НИЯУ МИФИ
Сотрудники НОЦ «Стойкость» приняли участие в Международной научно-технической конференции по современной радиоэлектронной аппаратуре
В период с 5 по 7 апреля сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») Никифоров А.Ю., Боруздина А.Б., Московская Ю.М., Кессаринский Л.Н., Уланова А.В., Усачев Н.А.
20.04.2017 НИЯУ МИФИ
Сотрудники НОЦ «Стойкость» приняли участие в семинаре «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур»
В семинаре «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур» приняли участие сотрудники НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») Д.В.
13.04.2017 НИЯУ МИФИ
В рамках школы-семинара по радиационной стойкости электроники сотрудник кафедры №3 представил два тематических доклада
В городе Ялте прошла 10-я Российская летняя школа-семинар «Методы оценки и обеспечения радиационной стойкости изделий электронной техники», в которой приняли участие 50 человек из 23 организаций.
27.07.2016 НИЯУ МИФИ
В ИЭПЭ МИФИ проанализировали воздействие радиации космоса на интегральные микросхемы
Сотрудники Института экстремальной прикладной электроники совместно с коллегами из АО «ЭНПО СПЭЛС, ЗАО НТЦ «Модуль»,
21.07.2016 НИЯУ МИФИ
В ИЭПЭ МИФИ предложили методику исследований эффектов одиночных сбоев в аналого-цифровых преобразователей при воздействии тяжелых заряженных частиц
Сотрудники Института экстремальной прикладной электроники совместно с коллегами из АО «ЭНПО СПЭЛС» предложили модифицированную методику исследования чувствительности аналого-цифрового преобразователя (АЦП) по эффектам од
15.07.2016 НИЯУ МИФИ
Количество и качество представленных на конференции «Радиационная стойкость электронных систем» докладов подтвердили высокий научно-технический уровень сотрудников НОЦ «Стойкость»
7-8 июня в г. Лыткарино Московской области состоялась 19-я ежегодная Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» («Стойкость - 2016»),
14.06.2016 НИЯУ МИФИ
НОЦ «Стойкость» НИЯУ МИФИ – дипломант конкурса «Золотой чип» выставки «Новая электроника-2016»
НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») принял участие в выставке «Новая электроника 2016», которая проходила в середине апреля в ЦВК «Экспоцентр».
27.04.2016 НИЯУ МИФИ
Сотрудники Института экстремальной прикладной электроники приняли участие в обсуждении проблем создания специализированных радиационно-стойких СБИС
В марте 2016 года состоялся XVI научно-практический семинар «Проблемы создания специализированных радиационно-стойких СБИС на основе гетероструктур».
11.04.2016 НИЯУ МИФИ
Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ, аспиранты и студенты университета приняли активное участие в XIV научно-практической конференции NIDays-2015
XIV ежегодная научно-практическая конференция компании National Instruments (NI) NIDays-2015 была посвящена современным измерительным и информационным технологиям построения автоматизированных систем тестирования,
24.12.2015 НИЯУ МИФИ
На базе НИЯУ МИФИ открылся авторизованный научно-образовательный центр коллективного пользования «Интеллектуальные измерительные системы»
В НИЯУ МИФИ на базе НОЦ «Стойкость» (ИЭПЭ НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») при поддержке кафедры №3 «Электроника» открылся авторизованный National Instruments научно-образовательный центр коллективного пользования «Интеллект
22.12.2015 НИЯУ МИФИ
Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ приняли активное участие в первой международной конференции «Микроэлектроника-2015»
В период с 28 сентября по 03 октября 2015 года сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» А.В.
20.10.2015 НИЯУ МИФИ
МИФИ принял участие в ХIV научно-технической конференции «Твердотельная электроника. Сложные функциональные блоки РЭА»
В период с 7 по 9 октября 2015 года сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» В.В.
12.10.2015 НИЯУ МИФИ
Сотрудники ИЭПЭ НИЯУ МИФИ приняли участие в подготовке научного издания для вузов по радиационной стойкости изделий ЭКБ
ИЭПЭ НИЯУ МИФИ совместно с АО "ЭНПО СПЭЛС" и кафедрой «Электроника» в рамках НОЦ "Стойкость" выпустили научное издание "Радиационная стойкость изделий ЭКБ" под редакцией профессора Чумакова А.И.,
12.10.2015 НИЯУ МИФИ
ИЭПЭ НИЯУ МИФИ совместно с АО «ЭНПО СПЭЛС» принял активное участие в конференции RADECS-2015
С 14 по 18 сентября 2015 года в конгресс-центре Гостиницы Измайлово «Альфа» в г.
09.10.2015 НИЯУ МИФИ
НИЯУ МИФИ принял участие в КрыМиКо-2015
С 6 по 12 сентября сотрудники НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» Амбуркин К.М., Громов Д.В., Першенков В.С., Скоробогатов П.К., Усачев Н.А.
06.10.2015 НИЯУ МИФИ
В столице 32 организации стали победителями Всероссийского конкурса «Лучший страхователь»
Упраление №2 ГУ- Главного Управления ПФР №2 по Москве и Московской области сообщает, что Пенсионный фонд Российской Федерации подвел итоги ежегодного
06.06.2011 Район Филевский парк ЗАО